本申请涉及印刷电路板测试领域技术领域，尤其涉及一种测试系统、测试方法、控制设备和存储介质。
背景技术：
电子产品等包括印刷电路板(printedcircuitboar，pcb)，pcb能避免人工接线的差错，保证了电子产品的质量，提高了劳动生产率、降低了成本，并便于维修。而每款电子产品在设计时，都需要设计pcb。新设计的pcb需要进行检测，以测试其性能。现有技术中，对pcb进行测试，都是手动进行测试，手动测试的时间较长，且测试结果容易出现错误。
因此，如何提供一种测试pcb速度效率高的方案，是本领域技术人员亟待解决的技术问题。
技术实现要素：
本申请提供一种测试系统、测试方法、控制设备和存储介质，旨在解决现有的pcb测试时间长的技术问题。
第一方面，本申请提供一种测试系统，所述测试系统包括控制设备和测试设备，所述测试设备包括移动装置和置于移动装置末端的示波器，所述控制设备与所述测试设备电性连接，其中，
所述控制设备用于获取测试文件，根据所述测试文件获取印刷电路板pcb的测试点的位置信息；并发送测试指令至所述测试设备，所述测试指令包括所述位置信息；
所述测试设备根据所述测试指令控制所述移动装置移动所述示波器的探头分别移动到所述pcb的测试点位置；
所述示波器获取所述pcb的测试点的信号波形图并发送给所述控制设备；
所述控制设备根据所述信号波形图生成测试结果。
优选地，所述移动装置包括测试底座和机械臂，所述pcb固定于所述测试底座，所述探头安装于所述机械臂；所述测试设备根据所述测试指令控制所述移动装置移动所述示波器的探头分别移动到所述pcb的测试点位置，具体包括：
所述测试设备根据所述测试指令将所述位置信息发送给所述移动装置；
所述移动装置通过所述机械臂控制所述示波器的探头分别移动到所述pcb各个测试点的位置。
第二方面，本申请还提供一种测试方法，应用于控制设备，所述控制设备与测试设备电性连接，所述测试设备包括移动装置和示波器，所述方法包括：
获取测试文件；
根据所述测试文件获取印刷电路板pcb的测试点的位置信息；
发送测试指令至所述测试设备，以使所述测试设备根据所述测试指令控制所述移动装置移动所述示波器的探头分别移动到所述pcb的测试点位置；所述测试指令包括所述位置信息；
通过所述示波器获取所述pcb的测试点的信号波形图；
根据所述信号波形图生成测试结果。
优选地，所述获取测试文件包括：
获取gerber文件；或
获取pcb坐标文件。
优选地，在所述发送测试指令至所述测试设备之前，所述测试方法还包括：
根据所述测试文件获取所述pcb的坐标系原点信息；
调整所述测试设备的移动装置的坐标系原点，以使所述移动装置的坐标系原点和所述pcb的坐标系原点一致。
优选地，所述调整所述测试设备的移动装置的坐标系原点，具体包括：
根据所述pcb的坐标系原点信息和预设的移动装置的坐标系原点确定所述pcb的坐标系原点与移动装置的坐标系原点的偏移量；
根据所述偏移量控制所述测试设备调节所述移动装置的水平面的x/y轴参数，以调整所述移动装置的坐标系原点。
第三方面，本申请还提供一种控制设备，所述控制设备与测试设备电性连接，所述测试设备包括移动装置和示波器，所述控制设备包括：
文件获取模块，用于获取测试文件；
位置获取模块，用于根据所述测试文件获取印刷电路板pcb的测试点的位置信息；
发送模块，用于发送测试指令至所述测试设备，以使所述测试设备根据所述测试指令控制所述移动装置移动所述示波器的探头分别移动到所述pcb的测试点位置；所述测试指令包括所述位置信息；
波形获取模块，用于通过所述示波器获取所述pcb的测试点的信号波形图；
结果生成模块，用于根据所述信号波形图生成测试结果。
优选地，文件获取模块，具体用于获取gerber文件；或获取pcb坐标文件。
优选地，所述控制设备还包括：
原点获取模块，用于根据所述测试文件获取所述pcb的坐标系原点信息；
调整模块，用于调整所述测试设备的移动装置的坐标系原点，以使所述移动装置的坐标系原点和所述pcb的坐标系原点一致。
优选地，调整模块包括：
确定单元，用于根据所述pcb的坐标系原点信息和预设的移动装置的坐标系原点，确定所述pcb的坐标系原点与移动装置的坐标系原点的偏移量；
调整单元，用于根据所述偏移量控制所述测试设备调节所述移动装置的水平面的x/y轴参数，以调整所述移动装置的坐标系原点。
优选地，控制设备30还包括：
散热模块，用于控制所述散热装置给所述pcb降温。
优选地，控制设备30还包括：
供电模块，用于给所述pcb供电，所述pcb内预先烧录有测试程序。
第四方面，本申请还提供一种控制设备，所述控制设备与测试设备电性连接，所述测试设备包括移动装置和示波器，所述控制设备包括：
存储器，用于存储测试程序；
处理器，用于执行所述测试程序时实现本申请第二方面实施例所述的测试方法。
第五方面，本申请还提供一种存储介质，所述存储介质为计算机可读存储介质，所述存储介质中存储有测试程序，所述测试程序被处理器执行时实现本申请第二方面实施例所述的测试方法。
与现有技术相比，本申请提供的技术方案，获取测试文件；根据所述测试文件获取印刷电路板pcb的测试点的位置信息；发送测试指令至所述测试设备，以使所述测试设备根据所述测试指令控制所述移动装置移动所述示波器的探头分别移动到所述pcb的测试点位置；所述测试指令包括所述位置信息；通过所述示波器获取所述pcb的测试点的信号波形图；根据所述信号波形图生成测试结果，使pcb的测试实现了自动化和智能化，测试时间段，加快了测试速度，在获取到测试文件后，不用人工干预即可生成测试结果，减少了人力投入，测试的结果也规避了人为测量导致的误差，提高了测量的精确度和一致性。
附图说明
图1为本申请第一实施例提供的测试系统的模块示意图。
图2为本申请中示波器的探头和移动装置的立体结构示意图。
图3为本申请中移动装置的模块示意图。
图4为本申请中pcb安装于测试底座的俯视结构示意图。
图5为本申请第二实施例提供的测试方法的流程图。
图6为本申请第三实施例提供的测试方法的流程图。
图7为图6中步骤s24的详细流程图。
图8为本申请第三实施例提供的控制设备的模块示意图。
图9为本申请第四实施例提供的控制设备的结构示意图。
具体实施方式
为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，如下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。
本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”、“第三”、“第四”等(如果存在)是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的实施例能够以除了在这里图示或描述的内容以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，示例性地，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
需要说明的是，在本申请中涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本申请要求的保护范围之内。
请参阅图1，本申请第一实施例提供了一种测试系统10，测试系统用于对pcb进行测试。测试系统包括控制设备11和测试设备12，测试设备12包括移动装置121和置于移动装置末端的示波器122，控制设备11与测试设备12电性连接，具体的，控制设备11分别与移动装置121和示波器122电性连接。需要说明的是，本申请中，对pcb进行测试，pcb不是空板，而是已经过贴片焊接的印刷电路板。
所述控制设备11用于获取测试文件，根据所述测试文件获取印刷电路板pcb的测试点的位置信息；并发送测试指令至所述测试设备12，所述测试指令包括所述位置信息。
控制设备11可以是电脑等能用于编程和计算的设备。获取测试文件时，可以是其他装置发送给控制设备11的，也可以是测试人员拷贝到控制设备11上的，从而控制设备11能获取到测试文件。测试文件中包括了pcb的坐标系和pcb的各个测试点的位置。pcb的坐标系用于描述各个测试的位置，即描述各个测试点的坐标。在设计pcb时，可以把pcb的坐标系原点按照统一的标准去设计，可使不同pcb的的坐标系原点相同。具体的，测试文件可以为gerber文件或pcb坐标文件。其中，gerber文件是制造pcb所需要的包含线路层、阻焊层、字符层等信息的生产文件，其包括了pcb的坐标系和pcb的各个测试点的位置。pcb坐标文件能由gerber文件通过软件转换生成，如通过gc-powerstation软件转换生成，pcb坐标文件也能由pcb设计软件生成。pcb坐标文件包括了pcb的坐标系和pcb的各个测试点的位置。
测试文件中包括了pcb的坐标系和pcb的各个测试点的位置，可根据测试文件获取到pcb的测试点的位置信息。
测试指令用于使测试设备12对pcb进行测试。
请参阅图2，示波器122包括探头1221。探头1221安装于移动装置121。测试设备12根据所述测试指令控制所述移动装置121移动所述示波器122的探头分别移动到所述pcb的测试点位置；所述示波器122获取所述pcb的测试点的信号波形图并发送给所述控制设备；所述控制设备11根据所述信号波形图生成测试结果。
一个pcb包括至少一个测试点。一般pcb包括多个测试点。示波器122的探头对每个测试点进行测试，通过感测测试点内信号的变化，可以获取到针对每个测试点的信号波形图。
优选地，所述测试结果包括所述测试点的位置、对应所述测试点的预设的信号类型、对应所述测试点的信号波形图和对应所述测试点的预设的判断标准。测试结果可以以报告的方式呈现出来。即生成测试报告。每个测试点有相应的位置，每个测试点会经过特定的预设的信号。测试点的预设的信号类型，即为预设测试点位置应当通过的预设的信号的类型，测试点的信号类型是在设计pcb时已经确定的，把每个测试点的信号类型预先存储在控制设备11中，在生成测试结果时，即可把测试点对应的信号类型在测试结果上呈现出来。判断标准为该测试点的信号需要达到的标准或要求。不同的测试点的判断标准可能不同。判断标准预先存储在控制设备11中，在生成测试报告时，即可把测试点对应的判断标准在测试结果上呈现出来。测试结果上的判断标准，用于测试人员根据判断标准、信号的类型和信号波形图人工判断测试点是否有问题。在有问题时，测试人员可根据测试点的位置快速确定哪个测试点有问题。可以理解，由于有些测试点是预留的，不一定有用，测试人员也可与开发人员确定需要测试的测试点，测试人员仅判断需要测试的测试点是否正常即可。
请一并参阅图2、图3和图4，其中，pcb为pcb20，具体的，移动装置121包括测试底座1211和机械臂1212，所述pcb20固定于所述测试底座1211，所述示波器122的探头安装于所述机械臂1212，移动装置121的机械臂1212移动时，能带动示波器122的探头移动。机械臂1212可以和测试底座1211连接，也可以和测试底座1211分离。测试底座1211的坐标系包括坐标系原点，移动装置121的测试底座1211的坐标系用于描述机械臂1212的移动后的位置。测试底座1211的坐标系存储于控制设备11或移动装置121上。
可以理解，移动装置121还可以包括固定装置1213，如夹具，固定装置1213和测试底座1211连接，固定装置1213用于固定pcb20。移动装置121还可以包括散热装置1214；所述散热装置1214用于给所述pcb20降温。给pcb20降温，能使pcb20在正常温度范围内工作，从而测试的结果更加准确。散热装置1214的类型不做限定，散热装置1214可以为散热风扇。散热装置1214也可以为水冷类型的装置。
所述测试设备12根据所述测试指令控制所述移动装置121移动所述示波器122的探头1221分别移动到所述pcb20的测试点位置，具体包括：
所述测试设备12根据所述测试指令将所述位置信息发送给所述移动装置121；所述移动装置121通过所述机械臂1212控制所述示波器122的探头分别移动到所述pcb20各个测试点的位置。
优选地，控制设备11还根据所述测试文件获取所述pcb20的坐标系原点信息；控制设备11调整所述测试设备12的移动装置121的坐标系原点，以使所述移动装置121的坐标系原点和所述pcb20的坐标系原点一致。
测试文件中包括了pcb20的坐标系，pcb20的坐标系包括了pcb20坐标系原点，即可根据测试文件获取pcb20的坐标系原点。可以理解，在获取pcb20的坐标系原点时，可以在获取pcb20的测试点的位置时同时获取，即：
根据所述测试文件获取pcb20的坐标系原点和pcb20的测试点的位置。
优选地，控制设备11调整所述测试设备12的移动装置121的坐标系原点，以使所述移动装置121的坐标系原点和所述pcb20的坐标系原点一致，包括：
控制设备11根据所述pcb20的坐标系原点信息和预设的移动装置121的坐标系原点，确定所述pcb20的坐标系原点与移动装置121的坐标系原点的偏移量；根据所述偏移量控制所述测试设备12调节所述移动装置121的水平面的x/y轴参数，以调整所述移动装置121的坐标系原点。
预设的移动装置121的坐标系原点可以为图4中的点o的位置，也可以根据需要进行设置。pcb20放置在移动装121置的测试底座1211上。pcb20放置的位置是固定的，pcb20的测试点的位置已经获取到，pcb20的测试点的位置是一个确定的位置，即pcb20坐标系原点的位置在移动装置的测试底座上也是明确的。移动装置的坐标系原点是预先设置好的，是已知的，pcb20的坐标系原点信息和预设的移动装置的坐标系原点不一致时，通过对比pcb20的坐标系原点信息和预设的移动装置的坐标系原点，即可确定出pcb20的坐标系原点与移动装置的坐标系原点的偏移量。
x/y轴参数，即移动装置的坐标系原点应当改变的量。如偏移量为pcb20的坐标系原点信息和预设的移动装置的坐标系原点在x轴方向相差1cm，在y方向相差2cm，调节移动装置在水平面的x轴的参数，使移动装置的坐标系原点向pcb20的坐标系原点在x轴方向移动1cm，使移动装置的坐标系原点向pcb20的坐标系原点在y轴方向移动2cm，即可调整移动装置的坐标系原点。
本申请的测试系统，所述控制设备用于获取测试文件，根据所述测试文件获取印刷电路板pcb的测试点的位置信息；并发送测试指令至所述测试设备，所述测试指令包括所述位置信息；所述测试设备根据所述测试指令控制所述移动装置移动所述示波器的探头分别移动到所述pcb的测试点位置；所述示波器获取所述pcb的测试点的信号波形图并发送给所述控制设备；所述控制设备根据所述信号波形图生成测试结果，使测试实现了自动化和智能化，加快了测试速度，在获取到测试文件后，不用人工干预即可生成测试结果，减少了人力投入，测试的结果也规避了人为测量导致的误差，提高了测量的精确度和一致性。
请参阅图5，图5为本申请第二实施例提供的一种测试方法，该测试方法以前述实施例为基础，可由控制设备来执行，该控制设备可通过硬件和/或软件的方式来实现，测试方法应用于测试系统，用于对pcb进行测试。该测试方法包括：
s11：获取测试文件。
获取测试文件时，可以是其他装置发送给控制设备的，也可以是测试人员拷贝到控制设备上的，从而控制设备能获取到测试文件。测试文件中包括了pcb的坐标系和pcb的各个测试点的位置。pcb的坐标系用于描述各个测试的位置，即描述各个测试点的坐标。具体的，测试文件可以为gerber文件或pcb坐标文件。其中，gerber文件是制造pcb所需要的包含线路层、阻焊层、字符层等信息的生产文件，其包括了pcb的坐标系和pcb的各个测试点的位置。pcb坐标文件能由gerber文件通过软件转换生成，如通过gc-powerstation软件转换生成，pcb坐标文件也能由pcb设计软件生成。pcb坐标文件包括了pcb的坐标系和pcb的各个测试点的位置。
其中，获取测试文件，包括：
获取gerber文件；或
获取pcb坐标文件。
s12：根据所述测试文件获取印刷电路板pcb的测试点的位置信息。
测试文件中包括了pcb的坐标系和pcb的各个测试点的位置信息，可根据测试文件获取到pcb的测试点的位置信息。可以理解，也可根据测试文件获取到pcb的坐标系，即获取到pcb的坐标系的原点坐标。
s13：发送测试指令至所述测试设备，以使所述测试设备根据所述测试指令控制所述移动装置移动所述示波器的探头分别移动到所述pcb的测试点位置；所述测试指令包括所述位置信息。
测试指令用于使测试设备对pcb进行测试。测试指令包括pcb的测试点的位置信息，测试设备即可控制移动装置上的示波器的探头分别移动到各个测试点位置。
s14：通过所述示波器获取所述pcb的测试点的信号波形图。
移动装置上的示波器的探头被移动装置带动，分别移动到各个测试点位置时，探头可以对每个测试点进行检测，从而示波器获取到每个pcb的测试点的信号波形图。
s15：根据所述信号波形图生成测试结果。
测试结果包括了信号波形图，以用于供用于判断测试结果。
优选地，所述测试结果包括所述测试点的位置、对应所述测试点的预设的信号类型、对应所述测试点的信号波形图和对应所述测试点的预设的判断标准。测试结果可以以报告的方式呈现出来。即生成测试报告。每个测试点有相应的位置，每个测试点会经过特定的预设的信号。测试点的预设的信号类型，即为预设测试点位置应当通过的预设的信号的类型，测试点的信号类型是在设计pcb时已经确定的，把每个测试点的信号类型预先存储在控制设备11中，在生成测试结果时，即可把测试点对应的信号类型在测试结果上呈现出来。判断标准为该测试点的信号需要达到的标准或要求。不同的测试点的判断标准可能不同。判断标准预先存储在控制设备11中，在生成测试报告时，即可把测试点对应的判断标准在测试结果上呈现出来。测试结果上的判断标准，用于测试人员根据判断标准、信号的类型和信号波形图人工判断测试点是否有问题。在有问题时，测试人员可根据测试点的位置快速确定哪个测试点有问题。可以理解，由于有些测试点是预留的，不一定有用，测试人员也可与开发人员确定需要测试的测试点，测试人员仅判断需要测试的测试点是否正常即可。
优选地，所述测试方法还包括：
控制所述散热装置给所述pcb降温。
给pcb降温，能使pcb在正常温度范围内工作，从而测试的结果更加准确。散热装置的类型不做限定，散热装置可以为散热风扇。散热装置也可以为水冷类型的装置。
优选地，所述发送测试指令至所述测试设备之前，还包括：
给所述pcb供电，所述pcb内预先烧录有测试程序。
pcb内烧录有测试程序，能使pcb按照测试程序进行工作。测试程序能使pcb进行工作，以使每个测试点都能有信号流过，保证所有测试点都能正常测试。给pcb供电，即给pcb提供了电能，pcb有电能时才能工作。
本实施例提供的测试方法，获取测试文件；根据所述测试文件获取印刷电路板pcb的测试点的位置信息；发送测试指令至所述测试设备，以使所述测试设备根据所述测试指令控制所述移动装置移动所述示波器的探头分别移动到所述pcb的测试点位置；所述测试指令包括所述位置信息；通过所述示波器获取所述pcb的测试点的信号波形图；根据所述信号波形图生成测试结果，使测试实现了自动化和智能化，加快了测试速度，在获取到测试文件后，不用人工干预即可生成测试结果，减少了人力投入，测试的结果也规避了人为测量导致的误差，提高了测量的精确度和一致性。
请参阅图6，本申请第三实施例也提供了一种测试方法，本实施例以前述实施例为基础，提供了一种调整移动装置坐标系的方案，该测试方法包括：
s21：获取测试文件。
s22：根据所述测试文件获取印刷电路板pcb的测试点的位置信息。
s23：根据所述测试文件获取所述pcb的坐标系原点信息。
测试文件中包括了pcb的坐标系，pcb的坐标系包括了pcb坐标系原点，即可根据测试文件获取pcb的坐标系原点。可以理解，在获取pcb的坐标系原点时，可以在获取pcb的测试点的位置时同时获取，即：
根据所述测试文件获取pcb的坐标系原点和pcb的测试点的位置。
s24：调整所述测试设备的移动装置的坐标系原点，以使所述移动装置的坐标系原点和所述pcb的坐标系原点一致。
移动装置的测试底座的坐标系用于描述机械臂上固定的探头的位置。移动装置的测试底座的坐标系原点可以调整。在移动装置的坐标系原点和所述pcb的坐标系原点一致时，使测试更快、更精确。
请参阅图7，调整所述测试设备的移动装置的坐标系原点，包括：
s241：根据所述pcb的坐标系原点信息和预设的移动装置的坐标系原点，确定所述pcb的坐标系原点与移动装置的坐标系原点的偏移量。
pcb放置在移动装置的测试底座上。pcb放置的位置是固定的，pcb的测试点的位置已经获取到，pcb的测试点的位置是一个确定的位置，即pcb坐标系原点的位置在移动装置的测试底座上也是明确的。移动装置的坐标系原点是预先设置好的，是已知的，pcb的坐标系原点信息和预设的移动装置的坐标系原点不一致时，通过对比pcb的坐标系原点信息和预设的移动装置的坐标系原点，即可确定出pcb的坐标系原点与移动装置的坐标系原点的偏移量。
s242：根据所述偏移量控制所述测试设备调节所述移动装置的水平面的x/y轴参数，以调整所述移动装置的坐标系原点。
x/y轴参数，即移动装置的坐标系原点应当改变的量。如偏移量为pcb的坐标系原点信息和预设的移动装置的坐标系原点在x轴方向相差1cm，在y方向相差2cm，调节移动装置在水平面的x轴的参数，使移动装置的坐标系原点向pcb的坐标系原点在x轴方向移动1cm，使移动装置的坐标系原点向pcb的坐标系原点在y轴方向移动2cm，即可调整移动装置的坐标系原点。
s25：发送测试指令至所述测试设备，以使所述测试设备根据所述测试指令控制所述移动装置移动所述示波器的探头分别移动到所述pcb的测试点位置；所述测试指令包括所述位置信息。
s26：通过所述示波器获取所述pcb的测试点的信号波形图。
s27：根据所述信号波形图生成测试结果。
本实施例提供的测试方法，获取测试文件；根据所述测试文件获取印刷电路板pcb的测试点的位置信息；根据所述测试文件获取所述pcb的坐标系原点；调整所述测试设备的移动装置的坐标系原点，以使所述移动装置的坐标系原点和所述pcb的坐标系原点一致；发送测试指令至所述测试设备，以使所述测试设备根据所述测试指令控制所述移动装置移动所述示波器的探头分别移动到所述pcb的测试点位置；所述测试指令包括所述位置信息；通过所述示波器获取所述pcb的测试点的信号波形图；根据所述信号波形图生成测试结果，能加快测试速度，使测试结果更精确。
请参阅图8，本申请第四实施例提供了一种控制设备，用于对pcb进行测试。控制设备与测试设备电性连接，所述测试设备包括移动装置和示波器，该控制设备可实现前述实施例的测试方法，控制设备包括：
文件获取模块31，用于获取测试文件；
位置获取模块32，用于根据所述测试文件获取印刷电路板pcb的测试点的位置信息；
发送模块33，用于发送测试指令至所述测试设备，以使所述测试设备根据所述测试指令控制所述移动装置移动所述示波器的探头分别移动到所述pcb的测试点位置；所述测试指令包括所述位置信息；
波形获取模块34，用于通过所述示波器获取所述pcb的测试点的信号波形图；
结果生成模块35，用于根据所述信号波形图生成测试结果。
本实施例提供的控制设备，获取测试文件；根据所述测试文件获取印刷电路板pcb的测试点的位置信息；发送测试指令至所述测试设备，以使所述测试设备根据所述测试指令控制所述移动装置移动所述示波器的探头分别移动到所述pcb的测试点位置；所述测试指令包括所述位置信息；通过所述示波器获取所述pcb的测试点的信号波形图；根据所述信号波形图生成测试结果，使测试实现了自动化和智能化，加快了测试速度，在获取到测试文件后，不用人工干预即可生成测试结果，减少了人力投入，测试的结果也规避了人为测量导致的误差，提高了测量的精确度和一致性。
优选地，文件获取模块31，具体用于获取gerber文件；或获取pcb坐标文件。
优选地，控制设备30还包括：
原点获取模块，用于根据所述测试文件获取所述pcb的坐标系原点信息；
调整模块，用于调整所述测试设备的移动装置的坐标系原点，以使所述移动装置的坐标系原点和所述pcb的坐标系原点一致。
优选地，调整模块包括：
确定单元，用于根据所述pcb的坐标系原点信息和预设的移动装置的坐标系原点，确定所述pcb的坐标系原点与移动装置的坐标系原点的偏移量；
调整单元，用于根据所述偏移量控制所述测试设备调节所述移动装置的水平面的x/y轴参数，以调整所述移动装置的坐标系原点。
优选地，控制设备30还包括：
散热模块，用于控制所述散热装置给所述pcb降温。
优选地，控制设备30还包括：
供电模块，用于给所述pcb供电，所述pcb内预先烧录有测试程序。
上述产品可执行本申请任意实施例所提供的方法，具备执行方法相应的功能模块和有益效果。
请参阅图9，本申请第五实施例还提供了一种控制设备及存储介质，其均具有本申请前述实施例提供的一种测试方法具有的对应效果。
本申请实施例提供的一种控制设备，控制设备包括前述实施例的结构之外，还包括存储器41和处理器42，存储器41中存储有测试程序，处理器42执行存储器41中存储的测试程序时实现如下步骤：
获取测试文件；
根据所述测试文件获取印刷电路板pcb的测试点的位置信息；
发送测试指令至所述测试设备，以使所述测试设备根据所述测试指令控制所述移动装置移动所述示波器的探头分别移动到所述pcb的测试点位置；所述测试指令包括所述位置信息；
通过所述示波器获取所述pcb的测试点的信号波形图；
根据所述信号波形图生成测试结果。
优选地，控制设备的处理器执行存储器中存储的测试程序时还实现如下步骤：获取gerber文件；或获取pcb坐标文件。
优选地，控制设备的处理器执行存储器中存储的测试程序时还实现如下步骤：根据所述测试文件获取所述pcb的坐标系原点信息；调整所述移动装置的坐标系原点，以使所述测试设备的移动装置的坐标系原点和所述pcb的坐标系原点一致。
优选地，控制设备的处理器执行存储器中存储的测试程序时还实现如下步骤：根据所述pcb的坐标系原点信息和预设的移动装置的坐标系原点，确定所述pcb的坐标系原点与移动装置的坐标系原点的偏移量；根据所述偏移量控制所述测试设备调节所述移动装置的水平面的x/y轴参数，以调整所述移动装置的坐标系原点。
优选地，控制设备的处理器执行存储器中存储的测试程序时还实现如下步骤：控制所述散热装置给所述pcb降温。
优选地，控制设备的处理器执行存储器中存储的测试程序时还实现如下步骤：给所述pcb供电，所述pcb内预先烧录有测试程序。
本申请实施例提供的一种存储介质，存储介质为计算机可读存储介质，计算机可读存储介质中存储有测试程序，测试程序被处理器执行时具体实现如下步骤：
获取测试文件；
根据所述测试文件获取印刷电路板pcb的测试点的位置信息；
发送测试指令至所述测试设备，以使所述测试设备根据所述测试指令控制所述移动装置移动所述示波器的探头分别移动到所述pcb的测试点位置；所述测试指令包括所述位置信息；
通过所述示波器获取所述pcb的测试点的信号波形图；
根据所述信号波形图生成测试结果。
优选地，计算机可读存储介质中存储的测试程序被处理器执行时具体还实现如下步骤：获取gerber文件；或获取pcb坐标文件。
优选地，计算机可读存储介质中存储的测试程序被处理器执行时具体实现如下步骤：根据所述测试文件获取所述pcb的坐标系原点信息；调整所述移动装置的坐标系原点，以使所述测试设备的移动装置的坐标系原点和所述pcb的坐标系原点一致。
优选地，计算机可读存储介质中存储的测试程序被处理器执行时具体还实现如下步骤：根据所述pcb的坐标系原点信息和预设的移动装置的坐标系原点，确定所述pcb的坐标系原点与移动装置的坐标系原点的偏移量；根据所述偏移量控制所述测试设备调节所述移动装置的水平面的x/y轴参数，以调整所述移动装置的坐标系原点。
优选地，计算机可读存储介质中存储的测试程序被处理器执行时具体实现如下步骤：控制所述散热装置给所述pcb降温。
优选地，计算机可读存储介质中存储的测试程序被处理器执行时具体实现如下步骤：给所述pcb供电，所述pcb内预先烧录有测试程序。
本申请所涉及的计算机可读存储介质包括随机存储器(randomaccessmemory，ram)、内存、只读存储器(read-onlymemory，rom)、电可编程rom、电可擦除可编程rom、寄存器、硬盘、可移动磁盘、紧凑型光盘只读储存器(compactdiscread-onlymemory，cd-rom)、或技术领域内所公知的任意其它形式的存储介质。
本申请实施例提供的一种测试系统、测试方法、控制设备和存储介质中相关部分的说明请参见本申请前述实施例提供的一种测试系统和测试方法中对应部分的详细说明，在此不再赘述。另外，本申请实施例提供的上述技术方案中与现有技术中对应技术方案实现原理一致的部分并未详细说明，以免过多赘述。
描述于本申请实施例中所涉及到的模块或单元可以通过软件的方式实现，也可以通过硬件的方式来实现。其中，单元的名称在某种情况下并不构成对该单元本身的限定。
以上仅为本申请的优选实施例，并非因此限制本申请的保护范围，凡是利用本申请说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本申请的保护范围内。
技术特征：
1.一种测试系统，其特征在于，所述测试系统包括控制设备和测试设备，所述测试设备包括移动装置和置于移动装置末端的示波器，所述控制设备与所述测试设备电性连接，其中，
所述控制设备用于获取测试文件，根据所述测试文件获取印刷电路板pcb的测试点的位置信息；并发送测试指令至所述测试设备，所述测试指令包括所述位置信息；
所述测试设备根据所述测试指令控制所述移动装置移动所述示波器的探头分别移动到所述pcb的测试点位置；
所述示波器获取所述pcb的测试点的信号波形图并发送给所述控制设备；
所述控制设备根据所述信号波形图生成测试结果。
2.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述移动装置包括测试底座和机械臂，所述pcb固定于所述测试底座，所述探头安装于所述机械臂；所述测试设备根据所述测试指令控制所述移动装置移动所述示波器的探头分别移动到所述pcb的测试点位置，具体包括：
所述测试设备根据所述测试指令将所述位置信息发送给所述移动装置；
所述移动装置通过所述机械臂控制所述示波器的探头分别移动到所述pcb各个测试点的位置。
3.一种测试方法，其特征在于，应用于控制设备，所述控制设备与测试设备电性连接，所述测试设备包括移动装置和示波器，所述方法包括：
获取测试文件；
根据所述测试文件获取印刷电路板pcb的测试点的位置信息；
发送测试指令至所述测试设备，以使所述测试设备根据所述测试指令控制所述移动装置移动所述示波器的探头分别移动到所述pcb的测试点位置；所述测试指令包括所述位置信息；
通过所述示波器获取所述pcb的测试点的信号波形图；
根据所述信号波形图生成测试结果。
4.如权利要求3所述的测试方法，其特征在于，所述获取测试文件包括：
获取gerber文件；或
获取pcb坐标文件。
5.如权利要求3所述的测试方法，其特征在于，在所述发送测试指令至所述测试设备之前，所述测试方法还包括：
根据所述测试文件获取所述pcb的坐标系原点信息；
调整所述测试设备的移动装置的坐标系原点，以使所述移动装置的坐标系原点和所述pcb的坐标系原点一致。
6.如权利要求5所述的测试方法，其特征在于，所述调整所述测试设备的移动装置的坐标系原点，具体包括：
根据所述pcb的坐标系原点信息和预设的移动装置的坐标系原点，确定所述pcb的坐标系原点与移动装置的坐标系原点的偏移量；
根据所述偏移量控制所述测试设备调节所述移动装置的水平面的x/y轴参数，以调整所述移动装置的坐标系原点。
7.一种控制设备，所述控制设备与测试设备电性连接，所述测试设备包括移动装置和示波器，其特征在于，所述控制设备包括：
文件获取模块，用于获取测试文件；
位置获取模块，用于根据所述测试文件获取印刷电路板pcb的测试点的位置信息；
发送模块，用于发送测试指令至所述测试设备，以使所述测试设备根据所述测试指令控制所述移动装置移动所述示波器的探头分别移动到所述pcb的测试点位置；所述测试指令包括所述位置信息；
波形获取模块，用于通过所述示波器获取所述pcb的测试点的信号波形图；
结果生成模块，用于根据所述信号波形图生成测试结果。
8.如权利要求7所述的控制设备，其特征在于，所述控制设备还包括：
原点获取模块，用于根据所述测试文件获取所述pcb的坐标系原点信息；
调整模块，用于调整所述测试设备的移动装置的坐标系原点，以使所述移动装置的坐标系原点和所述pcb的坐标系原点一致。
9.一种控制设备，所述控制设备与测试设备电性连接，所述测试设备包括移动装置和示波器，其特征在于，所述控制设备包括：
存储器，用于存储测试程序；
处理器，用于执行所述测试程序时实现如权利要求3至6任一项所述的测试方法。
10.一种存储介质，所述存储介质为计算机可读存储介质，其特征在于，所述存储介质中存储有测试程序，所述测试程序被处理器执行时实现如权利要求3至6任一项所述的测试方法。
技术总结
本申请涉及印刷电路板测试领域技术领域，尤其涉及一种测试系统、测试方法、控制设备和存储介质。测试方法应用于控制设备，所述控制设备与测试设备电性连接，所述测试设备包括移动装置和示波器，所述方法包括：获取测试文件；根据所述测试文件获取印刷电路板PCB的测试点的位置信息；发送测试指令至所述测试设备，以使所述测试设备根据所述测试指令控制所述移动装置移动所述示波器的探头分别移动到所述PCB的测试点位置；所述测试指令包括所述位置信息；通过所述示波器获取所述PCB的测试点的信号波形图；根据所述信号波形图生成测试结果。本申请的技术方案，使PCB的测试实现了自动化和智能化，测试时间段，加快了测试速度，提高了测量的精确度。
技术研发人员：刘均;温鑫
受保护的技术使用者：深圳市元征科技股份有限公司
技术研发日：.10.11
技术公布日：.02.28
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