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自定义拍照时 拍照界面_在用透射电镜拍照时为什么经常要插入物镜光阑?

时间:2021-10-16 06:24:06

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自定义拍照时 拍照界面_在用透射电镜拍照时为什么经常要插入物镜光阑?

在用透射电镜给样品尤其是多晶样品拍照时,经常会插入物镜光阑,这是什么原因呢?为了解释这个问题,我们还得用到衍射和衬度传递函数(Contrast Transfer Function)的知识,关于衬度传递函数可以阅读“Contrast Transfer Function”和“为什么过焦(Overfocus)样品边缘较暗而欠焦(Underfocus)边缘较亮?”这两篇文章。为了更直观的理解成像原理,我们还需要对成像过程有一定的了解,可以参考“透射电子显微镜是如何工作的?”这篇文章。这里我们只要关注从样品(Specimen)到像平面(Intermediate image 1)的部分,如图1中黑色矩形框所示。

图1 透射电子显微镜基本成像模式
Williams, David Bernard, and C. Barry. "Carter. Transmission electron microscopy: a textbook for materials science." (). New York: Springer.

基本成像过程

这里先以图2所示部分为例介绍一下成像过程。当平行电子束打到样品(Specimen)上时,电子会被衍射,衍射之后的电子束具有不同的传播方向,衍射角度较大(衍射电子束偏离竖直方向较大)的电子束具有较高的空间频率,衍射角度较小(衍射电子束偏离竖直方向较小)的电子束具有较低的空间频率,如图2所示。在“为什么过焦(Overfocus)样品边缘较暗而欠焦(Underfocus)边缘较亮?”这篇文章中提到,高频电子束包含样品的细节信息,而低频电子束包含样品的轮廓信息。之后衍射电子束会被一个物镜收集然后会聚在后焦面(Back Focal Plane, bpf),也就是图中物镜光阑(Objective Aperture)的位置。由高频电子束会聚而成的为高频衍射斑,由低频电子束会聚而成的为低频衍射斑,如图2所示。然后衍射光继续传播在像平面(图中Intermediate image 1)还原为样品的像。再往下的中间透镜(Intermediate Lens)主要是用于将像平面上的像投影到探测器上。

图2 透射电镜成像过程

插入物镜光阑

从图2我们可以看出,物镜光阑的位置正好是后焦面的位置,也就是物镜光阑起着将一部分衍射斑挡住的作用。物镜光阑的光孔尺寸一般比后焦面衍射像的尺寸要小,这就意味着一部分高频衍射斑会被物镜光阑挡住,如图3所示。

图3 物镜光阑的作用

从图三可以看到,当插入物镜光阑以后,高频衍射点会被挡住,这样只有低频衍射斑会发出衍射电子束在像平面上成像。所以插入物镜光阑的第一个效果就是降低了成像的分辨率,因为携带样品细节信息的衍射光被物镜光阑挡住了。但是,插入物镜光阑也是有优点的:可以提高成像对比度。

在文章“为什么过焦(Overfocus)样品边缘较暗而欠焦(Underfocus)边缘较亮?”中提到,高频电子束被挡住时,样品中细微结构会显得比较暗,因为细微结构成像中,高频衍射光起了很大作用。这就意味着,样品中不同尺度的结构所能接收到的电子的数量是不一样的。

多晶样品

在观测多晶样品时,我们期望看到样品中不同的晶粒,这样我们才能找到需要的晶粒进行衍射等后续实验。当加入物镜光阑时,不同晶粒的衬度不一样,也就是亮暗程度不一样,这样我们就很容易分辨出不同的晶粒,如图4所示。

图4 多晶样品TEM
Stuer, Michael, et al. "Nanopore characterization and optical modeling of transparent polycrystalline alumina."Advanced Functional Materials22.11 (): 2303-2309.

图4是一个多晶样品的TEM像,可以看到晶粒1和其他晶粒的明暗程度明显不一样,这主要是因为在沿着电子束轴的方向上,晶粒1中的细微结构更多。这可以是同样的材料(元素)不同的晶向导致的,也可以是不同的材料(元素)形成的晶粒不同导致的。我们知道同一个晶粒不同方向上晶面间距是不一样的,不同材料的晶面间距更不一样,所以这些样品的细微结构在尺寸上会有一定的区别。那么当高频成分被挡住时,细微结构能接收到的电子数减少,亮度相应地降低。如果不插入物镜光阑,则所有空间频率电子束都会参与成像,那么所有的结构都能获得较多的电子束,整个样品会显得很亮,这样在低倍下时不同晶粒之间的对比度很低,很难区分出不同的晶粒来。

以上就是物镜光阑在透射电镜中的作用以及基本原理。

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